基恩士 VK-X100/X200系列形状测量激光显微系统

产品简介
        •  [全新] 数码显微系统观察 
        •  16 bit 激光彩色观察 
        •  [广视野] WIDE-Scan 
        •  [简便] AI-Scan 
        •  高分辨率，大景深观察 
        •  仿佛彩色 SEM 
        •  无损轮廓和粗糙度测量
产品特性
        •解决问题：使用激光显微系统则可全部简单地实现，光学显微镜、SEM、粗糙度仪
        •全方位性质的清晰观察：从光学观察到类似于彩色 SEM 的高分辨率观察
        •可运行所有表面形状测量：对于拍摄到的图像可自由测量
        •全自动测量：谁都可以实现和熟练人员一样的测量
        •广视野的测量：通过 WIDE-Scan 简单 · 高速地实现广视野的测量