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奥智品 Pinnacle高精度，非接触测量系统

品牌：奥智品

生产商：奥智品

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奥智品 Pinnacle高精度，非接触测量系统产品介绍

高精度，非接触测量系统

·U2（XY平面）=（1.5+L/250）μm
·分辨率 0.1μm (0.025μm作为选配)
·高速马达 400 MM/sec
·双套不同倍率光学系统
·Windows 2000操作系统
·自定义客户界面
·多元传感，影像系统和激光系统
·具有专利权的可编程的环光（PRL）
·独有的边缘寻边的算法程序

如有需要看样机或者现场演示请致电021-58680872或Email

仪器 PINNACLE 参数指标：

测量范围	250×165×100 MM
分辨率	0.1μm (0.025μm作为选配)
马达驱动系统	线性马达（XY），Z轴DC伺服马达
速度	400 MM/sec
载重	25㎏
光学系统	标配：单倍固定倍率光学系统，1倍－2倍（30倍－550倍屏幕显示放大倍率）选配：两种固定倍率光学系统1－100倍（屏幕显示3580倍）
光源系统	标配：LED背光，多种颜色的同轴正光选配：具有专利的可编程的环光
影像处理	用户可根据自己需要去除毛边，边缘寻边器，快速寻边器，自动聚焦，及可供选配的具有专利栅格投影系统，区域寻中心功能，灯炮寿命测试
软件	多种座标系统，智能化搜索和建立座标系统，功能强大编程功能，包括数学计算，变量名定义，循环分流等。多种不同CAD文本输入。
图象处理传感器	高分辨率数字化B&WCCD照相机 765×576象素。
计算机	Intel奔腾4处理器Windows 2000操作系统
电源	自动转换100－240V 50/60HZ
环境	17～33℃ 20～80%湿度
重量	500㎏
外观尺寸	795×953×1750 MM
工作站	标配：17″SVGA显示器，操作标，鼠标，键盘选配：15″LCD显示器，操作杆，鼠标，键盘
精度	U2（XY平面）=（1.5+L/250）μm U1（Z轴）=（1.5+L/50）μm L：测量长度单位 MM