Feanor LP30 FEANOR 激光干涉仪测量系统

　　Feanor公司推出了可以评估、监控并改善机器性能的两激光干涉测量系统。

激光干涉仪（Laser Interferometer）
型号：LP 30 Compact　　
参考价格：面议　　
产地：Estonia

激光干涉仪技术参数

1.线性测量分辨率: 0.001μm
2.线性测量范围： 30m
3.线性测量精度: ±1.5ppm
4.最高测量速度： 30m/min
5.长期稳频精度： ±0.05ppm

激光干涉仪主要特点

         LP 30 Compact是全球最畅销的用于长度计量的激光干涉仪,其最大的优点是所有测量功能均采用激光干涉原理,性能稳定,使用可靠,功能扩展性强,价格适中.

仪器介绍
         LP 30 Compact 激光测量系统所有功能的设计都是与新软件配合使用。除了测量和分析诊断功能外，此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测量和电子水平仪及千分表程序接口模块。

    该激光干涉仪系统由激光头LP 30 Compact、环境监测补偿器，计算机接口卡及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内，一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定，大大改善了激光干涉仪的便携性。

    该激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机（包括笔记本计算机）连接，在灵活、直观的软件控制下进行自动测量，既节省了测量时间，又避免了人为误差，并能按国际上通行的标准进行数据分析处理，如 PN - 93 M55580, ISO/DIS 230, PN - 93 M55580 , ISO 230-2 , NMTBA , VDI/DGQ 3441，BSI BS 4656 Part 16，ISO230-2，等并适用中国国家标准GB17421-2000等，以便于按不同标准进行机床精度的评定和比较。

        LP 30 Compact 高性能激光干涉仪是机床、三坐标测量机及其它定位装置精度校准用的高性能仪器。由于采用了独特的专利设计及最新的光电子技术，使LP 30 Compact 激光干涉仪比市场上其它型号的激光干涉仪具有更高的性能和更先进的任选功能。
LP 30 Compact 激光干涉仪提供有进行机器位置、几何精度测量的全套光学器件。

第一: LN 10 - 长度的准确尺寸的激光干涉仪
    　LN 10 能被用以提升或使现有的更旧测量用的系统现代化。它能以很高准确率测量距离直到30米.基本系统包含 WindowsTM 软件、自动补偿（空气温度、大气压力及材料热膨胀补偿）及相关配件组成。

第二: LP 30 - 激光干涉仪干涉仪代表机床及坐标测量机 (CMM) 校准之最高水准
    　机床线性、角度、直线度、平面度和垂直度校验系统 LP 30 符合以下的标准:PN - 93 M55580, ISO/DIS 230, PN - 93 M55580 , ISO 230-2 , NMTBA , VDI/DGQ 3441, BSI BS 4656 Part 16。

　　典型应用: 传统的机床精度校正, CNC机床精度校正与补偿, 第四轴的校正与补偿, 标准长度的测量,例如块规, 花岗石平台的校正, 光学平台精度检验, PCB钻孔机精度校正与补偿, 三坐标空间精度校正, 半导体业机台校正

　　典型顾客: 学术研究单位, 制造厂厂内自校, 检校单位, 航空业, 自动化设备生产业。

[暂不可见]/laser_cn.htm