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GOM TRITOP 兼备灵活性和机动性的光学摄影测量系统

品牌:GOM
生产商: GOM 光学测量
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GOM TRITOP 兼备灵活性和机动性的光学摄影测量系统产品介绍

移动式测量系统


便携式 TRITOP 坐标测量系统可快速准确地测量物体的三维坐标。相较于传统接触式三维坐标测量机,使用TRITOP 系统可以更轻松地开展测量工作。无需任何复杂、笨重和精密维护的硬件。只需要让测量仪趋近物体即可。


与接触式坐标测量设备类似,TRITOP能记录所有几何特征的空间坐标及其方向。


  • 表面点和截面
  • 基元
  • 孔、冲孔和边
  • 直径、长度、角度




确定三维坐标以后,系统自动将测量结果转换至部件坐标系统中。


  • RPS
  • 量具对齐
  • ※佳拟合




将实际测量数据与 CAD 数据( IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG)进行比较,生成用户熟悉的测试报告格式。


  • 假色图示
  • 标注显示个别偏差点
  • 截面、角度和距离
  • 直径和平面度
  • 表格和列表




用于不同任务的测量数据和对齐数据。


  • CAD 比较
  • 验证形状和位置公差
  • 验证各种样图、文档或表格的规格
  • 首检




应用范围



  • 钣金件和车身的检测(如在试生产、工艺优化、工装验证、启动批量生产或者随机取样过程中)
  • 大型物体的质量控制(如飞机船舶、风力涡轮等)
  • 塑件的检验(如首件检验)
  • 夹具的检验和记录
  • 模型和原型的测量(如汽车内饰和外观设计)
  • 管路和电缆的三维形状验证
  • 二维板金坯件的切边测量
  • 汽车和气候箱测试的变形分析
  • 参考点标区的测量

静态变形分析


TRITOP 是一套便携易用的光学测量系统,能精准定义准静态条件下物点的三维坐标, 并由此计算出各类物体和组件的三维位移及形变。


采用非接触测量技术的 TRITOP系统可以快速捕捉物体位移和变形,由于无需在测量物上和测量物周围安装测量头和布置电缆,因此设备在运行过程中不会出现碰撞或干扰物体的情况。这一特点使得非接触系统 TRITOP 取代了传统的位移传感器。



TRITOP 测量系统可提供以下测量点信息,不限数量:


  • 三维坐标
  • 三维位移
  • 变形
  • 弯曲、扭转、挠度
  • 旋转角
  • 六个自由度
  • 相对位移(点-点、点-线、点-面)


这些结果可以以图表形式显示,或直接显示在 CAD 数据上,或叠加显示于记录的相机图像上,为用户提供直观易懂的结果报告。



应用范围


  • 气候环境试验箱
  • 环境模拟
  • 刚度测试
  • 间隙变形
  • 平整度测试
  • 仿真结果的验证和优化
  • 零部件的变形及其测试
  • 相对运动
  • 整体应变
  • 负载测试和老化试验(力与温度)




TRITOP 技术优点



  • 整套三维测量仪的组件极少(两个仪器箱总重23公斤)
  • 测量过程中无需接触被测物体
  • 可高精度测量大型物体
  • 不会因为机械磨损造成精度降低
  • 易于操作
  • 不受环境条件影响

 


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