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卡尔蔡司 O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术

品牌:卡尔蔡司

卡尔蔡司 O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术产品介绍


无论是几毫米大小的插头,手机外壳,还是植入工件,O-INSPECT是真正的全能型仪器,轻松承担各种测量任务。



 
最佳组合


O-INSPECT综合了最佳的测量技术与光学技术,除了接触式测量系统之外,本测量机还具有光学传感器。O-INSPECT是在塑胶工业,医疗和汽车技术及精密机械应用中的最佳方案,特别是在必须快速,大批量和高精度测量的零部件时。


  



重要特征


O-INSPECT使用了经过实际验证的结构原理——桥式测量机带有固定龙门架和移动式工作台,具有测量的高精度性以及优化性。同时具有多传感器技术的顶级标准配置。VAST集接触扫描和光学测量于一体。


机器技术


具有非常可靠的驱动技术,所有轴上使用精密滚珠轴承。高动态的驱动与自动驱动控制,并且有导轨误差补偿技术(CAA计算机辅助精度纠正)。O-INSPECT有着隐藏式的导轨和集成的减震系统,非常适合现场测量。O-INSPECT使用的组件都是经过测试验证的,包括了蔡司(蔡司官方网站蔡司社区蔡司产品一览蔡司应用案例)VAST XXT接触式探头,为光学测量设计的变焦镜头以及蔡司的精密机械组件。




可配置的传感器


VAST XXT
ViScan


测量范围 (in mm)
400 x 400 x 200

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