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工业测量
VAST XXT扫描探头

卡尔蔡司  VAST XXT扫描探头

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 卡尔蔡司 ZEISS VAST XXT连接在RDS上(见上图),特别适合于要求探头具有多角度位置的测量工件。同时也适用于诸如星形探针这

品牌:卡尔蔡司
O-INSPECT 光学测量技术

卡尔蔡司  O-INSPECT 光学测量技术

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 卡尔蔡司 ZEISS O-INSPECT综合了最佳的测量技术与光学技术: 除了接触式测量系统之外,本测量仪器还具有光 学传感器。O-IN

品牌:卡尔蔡司
O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术

卡尔蔡司  O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术

蔡司光学仪器(上海)国际贸易有限公司 卡尔蔡司 ZEISS 无论是几毫米大小的插头,手机外壳,还是植入工件,O-INSPECT是真正的全能型仪器,轻松承担各种测量任务。

品牌:卡尔蔡司
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